資料紹介

1 目的
　この実験では，微分回路や積分回路にパルスを入力し，それらの立ち下がり特性または立ち上がり特性を調べる．また，伝送回路のパルス応答を調べ，遅延時間を測定することにより，同軸ケーブルの長さを特定する．
2 使用器具
　今回の実験で使用した実験器具を示す．
パルス回路実験装置，MARUWA SOKKI，RM-632
PULSE GENERATOR，HEWLETT PACKARD，8013B，1441A 11218
OSCILLOSCOPE，National，VP-5514A，811278D 122
3 実験方法
　各実験を行う前に，パルス発生器のFREQUENCYを10kHz，WIDTHを0.1msec，PULSE MODEをSINGLE，AMPLITUDEをMINIMUMにそれぞれ設定した．微分回路と積分回路の中で使用した容量の値は Fである．
3.1 微分回路
　まず，パルス発生器のPULSE-OUT端子と，実験装置のINPUT端子を同軸ケーブルで接続した．次に，オシロスコープのCH.1をINPUT端子，CH.2をOUTPUT端子にそれぞれ接続し，オシロスコープ，パルス発生器の順に電源をONにした．その後，パルス電圧の振幅を1V，繰り返し周期を200μsec，パルス幅を50μsecに設定した．そして，微分回路の抵抗を1kΩ，10kΩ，51kΩに順次切り替えて，それぞれの場合の波形を観察しスケッチした．これらのうち10kΩの場合の波形をもとに，前半の立ち下がり特性を測定する．
3.2 積分回路
　微分回路の場合と同様に，パルス電圧の入力波形と，積分回路の抵抗を1kΩ，10kΩ，51kΩにした各場合の出力波形をスケッチした．これらのうち10kΩの場合の波形をもとに，前半の立ち上がり特性を測定する．
3.3 分布定数回路
　まず，パルス発生器の出力をINPUT端子に，外部トリガOUTをオシロスコープの外部トリガ入力にそれぞれ接続し，オシロスコープのCH.1をINPUT端子，CH2をOUTPUT端子に接続した．オシロスコープのトリガモードは外部トリガに設定した．

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目的
　この実験では，微分回路や積分回路にパルスを入力し，それらの立ち下がり特性または立ち上がり特性を調べる．また，伝送回路のパルス応答を調べ，遅延時間を測定することにより，同軸ケーブルの長さを特定する．
使用器具
　今回の実験で使用した実験器具を示す．
パルス回路実験装置，MARUWA SOKKI，RM-632
PULSE GENERATOR，HEWLETT PACKARD，8013B，1441A 11218
OSCILLOSCOPE，National，VP-5514A，811278D 122
実験方法
　各実験を行う前に，パルス発生器のFREQUENCYを10kHz，WIDTHを0.1msec，PULSE MODEをSINGLE，AMPLITUDEをMINIMUMにそれぞれ設定した．微分回路と積分回路の中で使用した容量の値は Fである．
微分回路
　まず，パルス発生器のPULSE-OUT端子と，実験装置のINPUT端子を同軸ケーブルで接続した．次に，オシロスコープのCH.1をINPUT端子，CH.2をOUTPUT端子にそれぞれ接続し，オシロスコープ，パルス発生器の順に電源をONにし...

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