実験1では、テキスト図22の回路を作り、F.G(信号発生器)をDCにし、入力電圧Vinを0Vから5Vまで変化させ、出力電圧Voutの関係を測定した。ここで得たそれぞれの値を表3.8.1で示し、グラフ化したものを図3.8.1で示す。
実験2では、テキスト図24の回路を作り、CMOS NANDゲート回路におけるスイッチング特性をオシロスコープで観測した。この波形を図3.8.1-2 とした。
実験では行わなかったが、AND、OR、NOT、XORの各素子の動作確認に必要な真理値表を書いた。ANDの真理値表を表3.8.2.1に、ORの真理値表を表3.8.2.2に、NOTの真理値表を表3.8.2.3に、そしてXORの真理値表を表3.8.2.4に示す。
実験3では、TフリップフロップをJ-Kフリップフロップで構成し、回路の動作をオシロスコープで確認した。この波形を図3.8.3で示した。
実験4では、DフリップフロップをJ-KフリップフロップとInverterを用いて構成し、回路の動作をオシロスコープで確認した。この波形を図3.8.4で示した。
実験5では、Tフリップフロップによる同期式4ビットアップカウンタ回路をJ-KフリップフロップとANDで構成し、Clock、Q0、Q1、Q2、Q3の波形をオシロスコープで確認した。この構成図を図3.8.5として、出力した波形でClock付き、Q2まで載っているものを図3.8.5-aとし、Clock無し、Q3まで載っているものを図3.8.5-bとした。
実験6では、マルチプレクサの回路をAND、Inverter、ORで構成し、回路の動作をオシロスコープで確認した。この構成図を図3.8.6とし、その真理値表を表3.8.6、観測した波形を図3.8.6-aとし、選択制御と出力のハザードを示す波形を図3.8.6-bとした。
実験7では、テキスト図19(図3.8.7)の全加算器を用い、入力A,B,Ciの信号をディップスイッチで切り替え、出力S,Coをロジックテスターで回路の動作を確認した。その動作結果を表3.8.7で示した。
ディジタル回路Ⅰ
実験報告レポート
Ⅰ.実験結果についての説明
実験1では、テキスト図22の回路を作り、F.G(信号発生器)をDCにし、入力電圧Vinを0Vから5Vまで変化させ、出力電圧Voutの関係を測定した。ここで得たそれぞれの値を表3.8.1で示し、グラフ化したものを図3.8.1で示す。
実験2では、テキスト図24の回路を作り、CMOS NANDゲート回路におけるスイッチング特性をオシロスコープで観測した。この波形を図3.8.1-2 とした。
実験では行わなかったが、AND、OR、NOT、XORの各素子の動作確認に必要な真理値表を書いた。ANDの真理値表を表3.8.2.1に、ORの真理値表を表3.8.2.2に、NOTの真理値表を表3.8.2.3に、そしてXORの真理値表を表3.8.2.4に示す。
実験3では、TフリップフロップをJ-Kフリップフロップで構成し、回路の動作をオシロスコープで確認した。この波形を図3.8.3で示した。
実験4では、DフリップフロップをJ-KフリップフロップとInverterを用いて構成し、回路の動作をオシロスコープで確認した。この波形...